Кристаллографии институт

КРИСТАЛЛОГРАФИИ ИНСТИТУТ имени А. В. Шубникова РАН (ИК РАН). Создан в 1943 году в Москве на базе Лаборатории кристаллографии Академии Наук СССР, организованной в 1937 году. Основатель и первый директор института – А. В. Шубников. В 1962-96 директор института Б. К. Вайнштейн, с 1998 – член-корреспондент РАН М. В. Ковальчук. Со дня основания в кристаллографии институте работал Н. В. Белов.

Кристаллографии  институт  – ведущий научный центр по изучению кристаллического состояния вещества. В институте проводятся исследования процессов образования кристаллов, их физических свойств, структуры с использованием рентгеновского и синхротронного излучений, нейтронов и электронов, исследуются наноматериалы. Созданные в кристаллографии институте аппаратура и методы выращивания кристаллов, включая кварц, лейкосапфир, лазерные кристаллы, составили основу отечественной промышленности синтетических кристаллов. В институте разработаны методы горизонтальной направленной кристаллизации, искусственной эпитаксии тонких плёнок, выращивания нитевидных кристаллов полупроводников, кристаллов белков и других биологически активных соединений, создания трековых мембран; проведены успешные эксперименты по выращиванию кристаллов в космосе. Учёные кристаллографии института внесли большой вклад в развитие теорий симметрии кристаллов, роста кристаллов, рассеяния рентгеновских лучей и электронов, в создание структурной электронографии, методов структурного анализа, малоуглового рассеяния, стоячих рентгеновских волн. В институте определено атомное строение сотен новых кристаллических материалов, от минералов до белков, открыты минералы икранит, расцветаевит, созданы новые сегнетоэлектрические и жидкие кристаллы, сцинтилляторы для детекторов ядерного излучения, суперионные проводники, магнитные и акустооптические кристаллические материалы. В кристаллографии институте создана фурье-спектроскопия, открыты явление электрогирации, фотовольтаический и магнитопластический эффекты. В институте разработаны и внедрены в промышленность отечественные рентгеновские дифрактометры и спектрометры, созданы комплексы аппаратуры для источников синхротронного излучения.