Индексы кристаллографические
ИНДЕКСЫ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ, три целых числа, определяющие расположение граней и атомных плоскостей кристалла в пространстве (индексы Миллера), а также направлений в кристалле и его рёбер (индексы Вейса) относительно кристаллографических осей. Прямая и параллельное ей ребро, определяемые индексами Вейса р1 р2, р3, (обозначаются [р1р2р3])’ проходят из начала координат О в точку А, определяемую вектором р1а + р2b + р3с, где а, b, с -периоды кристаллической решётки (изображённая на рисунке прямая ОА определяется индексами Вейса [124]).
Кристаллографическая плоскость отсекает на осях координат, построенных на векторах а, b, с, отрезки р’1а, р’2b, р’3с (р’1,р’2,р’3 - целые числа). Целочисленные обратные отношения 1/р’1:1/р’2:1/р’3 = h:k:l определяют индексы Миллера (hkl) данной плоскости. Например, для изображённой на рисунке плоскости Р р’1=2, р’2 =3, р’3 =6; величины, обратные этим, 1/2: 1/3 :1/6 можно привести к целым числам 6/2:6/3:6/6 = 3:2:1, то есть плоскость Р определяется индексами Миллера (321).
Прямая ОА с индексами Вейса [124] и плоскость Р с индексами Миллера (321); Ох, Оу, Oz- кристаллографические оси.
Равенство нулю одного или двух индексов Миллера означает, что плоскости параллельны одной или двум кристаллографическим осям. Отрицательные значения индексов Миллера соответствуют плоскостям, пересекающим оси координат в отрицательных направлениях. Совокупность симметричных граней одной простой формы кристалла обозначается {hkl}. При дифракции рентгеновских лучей индексы h, к, l отражающей плоскости характеризуют одновременно положение дифракционного максимума в обратной решётке.